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x荧光定硫仪采用紫外荧光法测定原理
更新时间:2018-04-16 点击量:
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x荧光定硫仪
采用紫外荧光法测定原理
x荧光定硫仪
是分析仪器,根据紫外荧光法原理与计算机控制技术相结合,研制开发的新一代测定液体、固体、气体物料中硫元素含量的分析系统。x荧光定硫仪采用新型电子元件设计的微电流放大器和微机控制数据采集与处理及紫外荧光分析系统构成。x荧光定硫仪具有灵敏度高,噪音低,线性范围宽、抗干扰能力强以及操作简便、性能稳定等优点,广泛应用于石油、化工、电力、环保及其它相关领域的科研单位和生产单位,是目前国内的紫外荧光定硫分析系统。
x荧光定硫仪
采用紫外荧光法测定原理。试样直接进入裂解管或进样舟中,由进样器将试样送至高温燃烧管,在富氧条件中,硫被氧化成二氧化硫(SO2);试样燃烧生成的气体在除去水后被紫外光照射,二氧化硫吸收紫外光的能量转变为激发态的二氧化硫(SO2*),当激发态的二氧化硫返回到稳定态的二氧化硫时发射荧光,并由光电倍增管按特定波长检测接收,发射的荧光对于硫来讲*是特定的并且与原样品中的硫含量成正比。再经微电流放大器放大,计算和数据处理,即可转换为与光强度成正比的电信号。
使用该仪器对样品进行分析时,首先用硫的标准样品作出相应的标准曲线,调用相应的标准曲线进行样品分析,就可测出未知样品中的硫含量。
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